金相顯微鏡原理

金相顯微鏡原理

微分干涉金相顯微鏡是目前先進(jìn)的顯微鏡產(chǎn)品。體視顯微鏡指從不同角度觀察物體,使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。工業(yè)視頻顯微鏡將傳統(tǒng)的顯微鏡與攝像系統(tǒng),顯示器或者電腦相結(jié)合,達(dá)到對(duì)被測物體的放大觀察的目的。金相顯微鏡電腦型金相顯微鏡或是數(shù)碼金相顯微鏡是將光學(xué)顯微鏡技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)**地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計(jì)算機(jī)上很方便地觀察金相圖像，從而對(duì)金相圖譜進(jìn)行分析，評(píng)級(jí)等以及對(duì)圖片進(jìn)行輸出、打印。微分干涉相襯法(DIC)作為材料顯微分析中的一種先進(jìn)分析檢驗(yàn)方法，對(duì)金相樣品的制備要求不高。觀察到的樣品組分間相對(duì)層次關(guān)系突出，呈現(xiàn)明顯的浮雕形狀，能對(duì)顆粒、裂紋、孔洞、凸起等做出正確判斷。，并能輕易判斷出一些在很多明場下看不見或難以分辨的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。然而，目前金相檢驗(yàn)中很少使用DIC方法。

在金相顯微鏡檢驗(yàn)研究方法中，微分形式干涉相襯法(DIC)是金相組織檢驗(yàn)的一種具有強(qiáng)有力的工具，其特點(diǎn)主要為:

1. 減少了對(duì)制備金相樣品的要求，對(duì)某些樣品，即使不經(jīng)蝕刻處理，也可以拋光觀察。 其優(yōu)點(diǎn)是可以觀察到樣品表面的真實(shí)狀態(tài)，例如，樣品拋光后在真空下發(fā)生馬氏體相變，并且可以觀察到馬氏體相變浮雕而沒有腐蝕。

2.觀察表面具有明顯的凹凸感，呈浮雕狀，可以顯示樣品各組分之間的相對(duì)水平關(guān)系，提高了金相檢驗(yàn)的準(zhǔn)確性，增加了相間的對(duì)比度。

3.用微分干涉相襯法觀察樣品，會(huì)看到很多在明場下看不到的細(xì)節(jié)。一些在明視野下難以分辨的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷，通過微分干涉的對(duì)比度增強(qiáng)可以很容易地判斷出來。

4、微分干涉相襯法基于中國傳統(tǒng)的正交偏光法，又巧妙地利用了在渥拉斯頓棱鏡基礎(chǔ)上不斷改良的DIC棱鏡和補(bǔ)色器(λ-片)等，使所觀察的樣品以光學(xué)干涉的方法染上豐富的色彩，從而導(dǎo)致可利用彩色膠卷或者通過數(shù)碼電子產(chǎn)品(CCD攝像頭設(shè)計(jì)以及對(duì)于數(shù)碼相機(jī))分析彩色金相顯微攝影。由于微分干涉相襯得效果與實(shí)際樣品細(xì)節(jié)的浮雕像以及文化色彩信息都是我們可以有效調(diào)節(jié)的，因而比正交偏光更為優(yōu)越。微分干涉相襯法在生物學(xué)習(xí)醫(yī)學(xué)教育領(lǐng)域得到了社會(huì)廣泛的重視，然而，到目前為止從發(fā)表的有關(guān)建筑材料金相實(shí)驗(yàn)研究的論文中，國內(nèi)外學(xué)者基于微分干涉相襯法相關(guān)材料金相研究的工作人員開展得很少。其原因影響主要有以下兩個(gè)重要方面:一方面是由于學(xué)生配備微分干涉相襯部件的金相顯微鏡不是因?yàn)楹芏啵涣硪粋€(gè)人方面，許多不同材料管理科學(xué)知識(shí)工作者還沒有完全意識(shí)到微分干涉相襯法在材料作為研究中的優(yōu)勢。

差分干涉相位對(duì)比法基本原理：

1.差分干涉相位對(duì)比法所需的元件: 偏振器、偏振器、差分干涉相位對(duì)比組件插入板(DIK 組件插入板)和顏色補(bǔ)償器(λ- 板)。偏振片和偏振片是金相樣品正交各向異性偏振光觀測中必不可少的元件。它們也是光/金相照明組件和差分干涉相位對(duì)比法的重要組成部分。