差分干涉相位比較法的工作原理

差分干涉相位比較法的工作原理

微分干涉金相顯微鏡常用于分析材料，它具有明顯的層次和凸起，能夠?qū)︻w粒、裂紋、孔洞和突起作出正確的判斷，能夠更好地區(qū)分一些普通顯微鏡難以確定的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)和缺陷。體視顯微鏡指從不同角度觀察物體,使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。金相顯微鏡電腦型金相顯微鏡或是數(shù)碼金相顯微鏡是將光學(xué)顯微鏡技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)**地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計(jì)算機(jī)上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進(jìn)行分析，評級等以及對圖片進(jìn)行輸出、打印。工業(yè)視頻顯微鏡將傳統(tǒng)的顯微鏡與攝像系統(tǒng),顯示器或者電腦相結(jié)合,達(dá)到對被測物體的放大觀察的目的。本文簡要介紹了差分干涉顯微鏡相襯法的基本原理:

差分干涉相位對比法所需組件：偏振器、分析器、差分干涉相位對比組件插入板（DIK組件插入板）、補(bǔ)色板（λ 板）。 偏振器和偏振器是用正交偏振光觀察金相樣品的關(guān)鍵部件,它們被組裝在明/金相照明模塊中,也是微分干涉相位對比法中的關(guān)鍵部件。 偏振器將光源變?yōu)闁|西方向振蕩的線性偏振光，分析器可以干涉滿足干涉條件的相干光。

DIK組件插板是微分干涉相襯法的核心功能部件，其上裝配有以渥拉斯頓棱鏡為基礎(chǔ)技術(shù)改良后的DIC棱鏡。DIK組件插板上有以下兩個(gè)市場調(diào)節(jié)旋鈕，其中存在較大的一個(gè)可以用來作為調(diào)節(jié)系統(tǒng)組成DIC棱鏡的兩個(gè)棱鏡間的相對重要位置，使其厚度以及產(chǎn)生一些微小的改變自己從而能夠引起光程或光程差的微小企業(yè)變化，產(chǎn)生影響明顯的干涉相襯效果；較小的一個(gè)主要用來調(diào)節(jié)DIC棱鏡的高低位置，以配合使用不同倍數(shù)物鏡后焦平面設(shè)計(jì)位置上的差異，從而才能確保DIC觀察視場中能獲得更加均勻的照明。

色彩補(bǔ)償裝置(-板)由石膏制成，并插入線偏振光的照明路徑中，以增加波長約為550nm的光波的光程差，從而將干涉階次提高一步。 確保樣品在視野中的不同組織細(xì)節(jié)獲得豐富的顏色，從而便于觀察和分析金相結(jié)構(gòu)。

2.本文介紹了差分干涉相位對比法的基本原理: 圖中給出了差分干涉相位對比法的基本原理。光源發(fā)出的照明光經(jīng)偏振后轉(zhuǎn)變?yōu)檠貣|西方向振動的線偏振光。當(dāng)它**次進(jìn)入 DIC 棱鏡時(shí)，它分為普通光(o 光)和異常光(e 光) ，其振動方向相互垂直。

鋼的鑄態(tài)組織表面有明顯的凹凸感，晶界和沿晶界分布的碳化物非常明顯，當(dāng) o-light 和 e-light 通過棱鏡時(shí)，兩者具有一定的光程差 t1，當(dāng)這兩束光通過物鏡照射到樣品上時(shí)，可能照射到不同的表面狀態(tài)。換句話說，當(dāng)這兩束光的波面接觸到樣品的不均勻表面、裂紋、微孔、凹陷、晶界等時(shí)，它們的反射會有所不同，此外，由于不同相位的光的折射率不同而引起的光波的相位變化，會產(chǎn)生新的附加光程差。當(dāng)兩束光從樣品表面反射時(shí)，它們通過物鏡再次進(jìn)入 DIC 棱鏡，波前產(chǎn)生一個(gè)新的光程差 T2并合并。但是這兩束光仍然是線偏振光，彼此垂直，不相互干涉。