工業(yè)顯微鏡作為一種高精度的光學(xué)儀器，具有多種測量方式，以滿足不同行業(yè)和領(lǐng)域的檢測需求。以下是工業(yè)顯微鏡的幾種主要測量方式介紹：

一、軸切法

軸切法是利用中央顯微鏡的標(biāo)記對(duì)通過測件軸心線，并利用測量刀上的刻線進(jìn)行瞄準(zhǔn)定位的測量方法。測量時(shí)，將測量刀放在測量刀墊板上，刻線面通過測件的軸線，并使測刀的刃口和被測面緊緊接觸。通過相應(yīng)的米字線去瞄準(zhǔn)，測量兩把測刀刻線間的距離，從而間接測得被測件的測量值。這種方法主要用于螺紋中徑測量，具有較高的精度和準(zhǔn)確性。

二、影像法

影像法是利用中央顯微鏡的標(biāo)記對(duì)影像進(jìn)行瞄準(zhǔn)定位的測量方法。測量時(shí)，先用分劃板上的刻線瞄準(zhǔn)測件影像的邊緣，并在讀數(shù)顯微鏡上讀出數(shù)值。然后移動(dòng)工作臺(tái)，以同一條刻線瞄準(zhǔn)測件影像的另一邊，再作第E次讀數(shù)。兩次讀數(shù)的差，即為被測件的測量值。這種方法適用于對(duì)測件影像邊緣進(jìn)行精確測量的場景。

三、接觸法

接觸法是利用中央顯微鏡的標(biāo)記對(duì)和緊靠測件測量點(diǎn)、線、面的光學(xué)測孔器的測頭連在一起的雙刻線進(jìn)行瞄準(zhǔn)定位的測量方法。在測量孔徑時(shí)，首先使測頭與測件內(nèi)孔接觸，取得*大弦長后，使米字線中間刻線被光學(xué)測孔器的雙套線套在中間，并在讀數(shù)顯微鏡讀取一數(shù)。然后改變測量方向，使測頭在另一側(cè)與測件接觸，同樣使米字線分劃板的中間刻線仍被光學(xué)測孔器的雙套線套在中間，在讀數(shù)顯微鏡上讀取另一數(shù)。兩次讀數(shù)的差，再加上測頭直徑的實(shí)際值，即為測件的內(nèi)尺寸；如減去測頭直徑的實(shí)際值，則為測件的外尺寸。這種方法在孔徑測量中非常實(shí)用。

四、直角坐標(biāo)測定

直角坐標(biāo)測定是工業(yè)顯微鏡中常用的一種測定方法，特別是在使用大型工具顯微鏡時(shí)。通過裝配式旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)或角度觀測透鏡，可以方便地測定測定物的直角坐標(biāo)值。這種方法在機(jī)械制造、電子制造等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。

五、角度測定

角度測定是工業(yè)顯微鏡的另一種重要測定方法。利用旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)或角度觀測透鏡，可以精確地測定物體的角度。角度觀測透鏡的精度較高，能夠滿足對(duì)角度測量精度要求較高的場景。

六、高度測定

雖然小型工具顯微鏡無法直接測定高度，但可以通過將量銀裝在支柱的上端，然后利用顯微鏡的上下移動(dòng)量來間接測定高度。然而，由于焦點(diǎn)深度、支柱傾度及量銀和光軸間等因素的誤差，這種方法的測定精度相對(duì)較低。大型工具顯微鏡則可使用重疊影象觀測透鏡或光學(xué)探測子來提高高度測定的精度。

七、孔徑測定

孔徑測定是工業(yè)顯微鏡在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域中常用的測定方法之一。通過光學(xué)測孔器或光學(xué)探測器等附件，可以精確地測定孔穴的內(nèi)徑。這種方法在微孔加工、材料表面處理等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。

綜上所述，工業(yè)顯微鏡具有多種測量方式，包括軸切法、影像法、接觸法、直角坐標(biāo)測定、角度測定、高度測定和孔徑測定等。這些測量方式各具特點(diǎn)和應(yīng)用場景，能夠滿足不同行業(yè)和領(lǐng)域的檢測需求。隨著科技的不斷發(fā)展，工業(yè)顯微鏡的測量技術(shù)和功能也在不斷提升和完善，為各行業(yè)的生產(chǎn)和研發(fā)提供了更加有力的支持。